DM6M LIBS外觀(guān)檢驗與元素分析二合一解決方案

2合 1 系統 — 用于目視和化學(xué)分析

目視和化學(xué)材料檢驗二合一，節省90%的時(shí)間。DM6M LIBS解決方案的集成激光光譜功能可提供在顯微鏡圖像中所觀(guān)察到的化學(xué)指紋圖譜。利用所有顯微鏡功能，通過(guò)化學(xué)分析檢查樣品和鑒定材料。

1秒即可獲得化學(xué)指紋圖譜

運用成熟的LIBS（激光誘導擊穿光譜）技術(shù)進(jìn)行即時(shí)元素分析，可在數秒內獲得轟擊點(diǎn)的化學(xué)信息。

將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟，以結果為重點(diǎn)！

0— 無(wú)需樣品制備

找到感興趣的位置，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā)LIBS分析。

所見(jiàn)即所測！

無(wú)需制備和傳輸樣品

 無(wú)需系統調節

 無(wú)需重新定位感興趣區域。

案例研究：
Gerweck GmbH Oberflaechentechnik公司
（德國B(niǎo)retten-Goelshausen）

鋁/硅（Al/Si）表面鹽侵的圖像（580 x 440微米）和LIBS光譜，可使用DM6 M LIBS解決方案獲得。 鹽光譜（紅色）與純鋁參考光譜（綠色）對比。 由Gerweck GmbH提供。

轉而使用徠卡顯微系統公司DM6M LIBS二合一解決方案的公司可以獲得眾多優(yōu)勢，Gerweck公司就是一個(gè)很好的例子。光學(xué)顯微成像和激光誘導擊穿光譜技術(shù)（LIBS）二合一的材料分析解決方案，除了可以同時(shí)實(shí)現圖像觀(guān)察和元素分析外，也可以用于深度剖面分析。Gerweck提供各種材料的電子元件的表面加工和鍍膜，包括金（Au），銀（Ag），銅（Cu）和鎳（Ni）。

該公司經(jīng)常收到客戶(hù)提出的因質(zhì)量問(wèn)題要求索賠證明的請求，因此需要進(jìn)行根本原因分析，其中包括將原材料與退回部件之間的比較。常見(jiàn)的問(wèn)題根本原因是原材料受到污染，例如鹽或潤滑劑殘留物引起的污染，或者表面缺陷。進(jìn)行光學(xué)檢查后，Gerweck需要在微觀(guān)尺度下確定斑點(diǎn)的材料成分，從而對部件進(jìn)行失效分析。對于汽車(chē)行業(yè)客戶(hù)，應在10天內出具8D報告，其中包括根本原因分析和建議采取的應對措施。

在采用DM6M LIBS解決方案之前，Gerweck將樣本寄給一家外部實(shí)驗室，他們使用掃描電子顯微成像和能量色散譜（SEM/EDS）技術(shù)進(jìn)行高級分析。這種外包方式增加了成本和樣本處理時(shí)間。有時(shí)還需要其它外部實(shí)驗室進(jìn)行其他檢測。該公司決定尋找一種不需要高級用戶(hù)培訓和樣本制備，也不需要外部樣本處理/分析的材料分析技術(shù)，從而全面節省時(shí)間和成本。新技術(shù)的最終目標是能夠輕松進(jìn)行外觀(guān)檢驗，表面形貌評估和定性分析。

Gerweck開(kāi)始使用DM6M LIBS二合一解決方案后，獲得檢驗結果的速度顯著(zhù)加快，例如工作周轉時(shí)間縮短至不到一天，節省出的時(shí)間可以用來(lái)進(jìn)行其他檢驗。這一優(yōu)勢意味著(zhù)可以輕松地如期完成8D報告。另一項優(yōu)勢是降低分析成本。質(zhì)量相關(guān)問(wèn)題顯著(zhù)減少， 并能在生產(chǎn)早期就識別到可能造成缺陷的根本原因，同樣節省了成本。最終結果是索賠數量減少。

DM6M LIBS

Hans-Ullrich Eckert 工藝技術(shù)開(kāi)發(fā)經(jīng)理 GERWECK GMBH Oberfl?chentechnikBretten-G?lshausen（德國）：

“作為一家積極發(fā)展中的中型企業(yè)，我們認為拓展內部分析方法是很必要的。 我們決定采用DM6M LIBS材料分析解決方案是因為它兼具多功能和易用性。 我們的目標是能夠輕松通過(guò)光學(xué)進(jìn)行外觀(guān)檢驗，表面形貌評估和定性分析。我們使用該儀器已超過(guò)一年，可以說(shuō)它*符合我們的期望。 設備功能多，分析時(shí)間短，使這項投資的效益十分顯著(zhù)。我們確實(shí)非常滿(mǎn)意。"